Kalender mit einigen Terminen aus der IT-Szene

Redaktion: Heinz Schmitz


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Angewandte Elektronenmikroskopie in Materialforschung und Schadensanalytik

Angewandte Elektronenmikroskopie in Materialforschung und Schadensanalytik

Seit ihrer Erfindung in den 30er Jahren des vergangenen Jahrhunderts hat sich die Elektronenmikroskopie von einem sehr speziellen Abbildungssystem zu einer großen Technologiebreite entwickelt. Die große Leistungsfähigkeit ist heute ein nicht mehr weg zu denkendes Element für die Nanotechnologie.

 

https://www.dgm.de/index.php?id=1483

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